Tenders Guru Logo

Dostawa spektrometru XRF do badania grubości powłok

  • Purchaser

    Instytut Techniki Budowlanej

  • Publication date

    Jun 13, 2019

  • Type

    Przetarg nieograniczony

  • Value Awarded

    183.7k zł

    Wymagane parametry techniczne i wyposażenie urządzenia:  Metoda fluorescencji rentgenowskiej (EDXRF) zgodnie z ISO 3497, ASTM B568,  Zakres analizowanych pierwiastków: Ti(22) – U(92),  Kierunek działania wiązki rentgenowskiej: z góry na dół,  Lampa rentgenowska z chłodzeniem poprzez zanurzenie w oleju pracująca na napięciach w zakresie 30 – 50 kV,  Filtr niklowy  Kolimator o średnicy w zakresie od 0.2 do 0.4 mm  Detektor: licznik proporcjonalny,  Wymiary wewnętrzne komory pomiarowej nie

    Awards

  • Notices

    • Jun 13, 2019

      Intention to award the contract

    • Jul 26, 2019

      Award of the contract